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YT4200-P3分体铁基涂层测厚仪

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详细说明

    产品型号 YT4200-P3

产品名称 分体铁基涂层测厚仪

符合标准 ASTM B499,ASTM D1400;

ISO 2178,ISO 2360，ISO 2808;

GB/T 4956/4957,JB/T 8393

基体 Fe

探头形式 分体式

分辨率 0.1/1μm

测量范围 0~1250μm

测量精度 零点校正:±(3%H+1)μm；

两点校正:±(1~3%H+1.5)μm；

注:H为样品厚度

最小测量尺寸 10×10mm

最小测量厚度 磁性：0.2mm

最小曲率 凸面半径5mm；凹面半径10mm

显示单位 μm

存储容量 /

统计功能 /

蓝牙 /

电源 2节5号电池(AA碱性电池或镍氢充电电池);

尺寸 102×66×24mm

重量 99g(含电池)

品质软件 /

工作温度 0~40oC(10~90%RH无凝露)

储存温度 -10~50oC

标准附件 基体1块(铁基体),腕带，校准试片

可选附件 校准试片(12μm,25μm)

注： 技术参数仅为参考，以实际销售产品为准

 
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